金屬光譜
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產品描述

氣 體真空 光學系統-探測器CCD/CMOS 氬氣流量激發時3-5L/min 吹 掃點擊自吹掃功能 頻 率100-1000Hz 放電電流1-80A 特殊技術放電參數優化設計 預 燃高能預燃技術 功 率分析時700W,待機狀態40W 工作濕度20-80% 主機尺寸800*750*500 mm 重 量120Kg 工作溫度10-30℃(+-5℃/h) 是否進口 加工定制 類型金屬元素分析儀器 測試范圍140 – 680nm 測量時間50S 電源電壓220 適用范圍金屬材料分析
金屬光譜產品詳細資料介紹,金屬光譜儀技術參數和性能配置請咨詢蘇州實譜信息科技有限公司提供金屬光譜產品報價和操作說明。CCD全譜直讀光譜儀應用:鐵基分析:不銹鋼、高低合金鋼、碳鋼、鑄鐵鋁基分析:鋁銅、鋁鎂、鋁硅銅基分析:鎳銅、黃銅、鋁青銅等鈦基分析、鋅合金、錫合金、鉛合金等。
直讀光譜儀金屬和合金樣品分析
直讀光譜儀工作者使用直讀光譜儀進行金屬和合金樣品分析的時候,需要完成兩項任務。其一,做好樣品分析前的準備工作;其二,完成金屬和合金樣品分析的任務。

廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析,*、、穩定、可靠測試幾十種元素,滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求,是生產金屬產品的設備。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術,全面測試各種金屬中元素的譜線,方便實現多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序為方便,方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

光電光譜分析大都采用控制試樣法,這就會遇到有關控制標鋼來源、化學成分的確定及使用等一系列問題。對一些新開展光電光譜分析工作的單位尤需注意。
初開展工作中,可以在生產中選取一些樣品,經可靠的化學分析方法多次分析,得到準確結果作為控制試樣。用此樣控制作光譜的試樣分析,同時與化學分析進行對照(這個階段叫平行分析。積累一批數據以后,驗證相互偏差不大,光譜分析便可正式投產)。
高低標樣,控制樣品中的低含量元素,單靠從生產中選取是遠遠不能滿足生產需要的,可以從軋材中選取和進行冶煉。
不論是生產中、軋材中和冶煉得到的控制標鋼,必須事行均勻性檢查、化學分析和平行分析對照階段。在爐中分析時,應盡量選用同鋼種的標樣做控制分析,其元素成份和含量范圍要接近被分析試樣。
直讀光譜儀無錫
直讀光譜分析儀是光學儀器的重要組成部分.它是光學技術和光譜分析技術原理的基礎上,觀察材料的結構和基礎設備、組成、分析和處理,用**分析、測量范圍大、高速度、低樣品消耗,因此,它被廣泛應用于冶金、地質、石油化工、、衛生、環保等部門.它也是偵察、空間探測、資源和水文探測必不可少的工具.
直讀光譜儀的測量過程,從樣品到計算機到元素分析的分析只需20-30秒,速度非???這有利于縮短冶煉時間,降低成本.特別是那些容易燃燒的元素,*容易控制后的成分.
直讀光譜儀分析測試樣品中的所有元素,幾十個,甚至可以同時進行分析,對復雜產品的,分析元素的需求越多,愈合越好,經濟效益越好.
直讀光譜儀分析精度很高,可以有效控制產品的化學成分,以確保它能符合地區標準規格,合金成分甚至可以控制地板的規格,節省中間合金或鐵合金的消耗.
直讀光譜儀的分析數據可以打印或存放在軟盤中作為記錄.
直讀光譜儀故障處理
光譜儀在使用中難免會出現這樣那樣的問題,而作為儀器使用人員,往往缺少必要的儀器維護知識,我們總結了一些直讀光譜儀使用中常見的簡單問題,希望能對企業用戶有所幫助
故障一:新儀器電腦出現死機,程序錯誤、黑屏、分析軟件的 START狀態不對有時變為不動,有時雖然動但是變為紅色。
處理辦法:此為通訊線接觸不良,重新連接即可。
故障二:光譜儀排氣不暢故障,氬氣管路堵塞,火花室下部的彎
頭內有異物,氬氣過濾器端有異物。
處理辦法:更換排氣管,要更換透明的塑料管,并定期對排氣管路進行吹掃。
故障三:溫度偏高故障
處理辦法:檢查儀器后蓋風扇是否轉動,轉動是否靈活。
故障四:真空泵不自動啟動故障,
處理辦法:先看泵油溫度是否較低,重新斷電后,手動啟動真空泵,有時需停頓一下,再試。
故障五:光譜儀 P、S 穩定性不好,檢查真空泵是否被誤關掉,真空光路鏡片是否需要清洗,一個維護不好的光路會導致錯誤的重現性和
分析結果。
處理辦法:檢查真空泵及清洗鏡片
故障六:真空值下降快故障
處理辦法:看真空值曲線是否平緩,否則,有漏氣的地方,檢查真空室真空蓋密封性,更換密封圈或對角緊固螺絲。
故障七:光譜儀光強值下降
原因分析:
1、透鏡臟
2、入射狹縫污染
3、光纖老化
處理辦法:擦拭透鏡,清理狹縫,更換光纖。
經驗總結:光譜儀用久了,激發臺會因點打的太多了,出現放電漏氣現象,導致光強上不去,需要經常清理激發臺板及火花室。
故障八:數據不穩定
處理方法: 清洗鏡片后重新做標準化,儀器鏡片的污染會導致數據測試的結果不穩定,長時間沒有做儀器的曲線校準也會導致數據測試

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