火花式直讀光譜分析儀
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產品描述

氣 體真空 光學系統-探測器CCD/CMOS 氬氣流量激發時3-5L/min 吹 掃點擊自吹掃功能 頻 率100-1000Hz 放電電流1-80A 特殊技術放電參數優化設計 預 燃高能預燃技術 功 率分析時700W,待機狀態40W 工作濕度20-80% 主機尺寸800*750*500 mm 重 量120Kg 工作溫度10-30℃(+-5℃/h) 是否進口 加工定制 類型金屬元素分析儀器 測試范圍140 – 680nm 測量時間50S 電源電壓220 適用范圍金屬材料分析
火花式直讀光譜分析儀產品詳細資料介紹,火花式直讀光譜分析儀技術參數和性能配置請咨詢蘇州實譜信息科技有限公司提供直讀光譜儀產品報價和操作說明。CCD全譜直讀光譜儀應用:鐵基分析:不銹鋼、高低合金鋼、碳鋼、鑄鐵鋁基分析:鋁銅、鋁鎂、鋁硅銅基分析:鎳銅、黃銅、鋁青銅等鈦基分析、鋅合金、錫合金、鉛合金等。
傳統的光譜檢測系統為單色儀家光電倍增管(PMT)。20世紀70年代以來,人們欲利用光電二級管陣列(SPDA)等光電傳感器以建立三維光譜圖,并發展相應的處理技術。SPDA不僅能獲得某一波段范圍內的檢測信息,還具有靈活的積分能力,但是它的靈敏度和動態范圍不及PMT,而且噪聲較大,線性范圍窄,暗電流也大,而CCD卻彌補了這些缺點。
CCD具有與光譜儀器密切相關的一些特性:
(1)靈敏度高,噪聲低。CCD器件具有很高的量子效率,至少為10%,可達90%以上。它的電荷轉移率幾乎達,它在低溫下工作時幾乎無暗電流,噪聲幾乎接近于零,的CCD器件,已經實現了在常溫下具有很高的信噪比,低的暗電流,滿足了儀器在常溫及微量分析上的要求,上述優點使CCD器件的靈敏度*過其他探測器(如PMT何SPDA),檢測下限達pg級甚至fg級。
(2)光譜范圍寬(200~1050nm)。在可見光區(400~500nm)量子效率可高達90%,在遠紫外區(200nm)和近紅外(100nm)間,量子效率至少為10%,在100~1100nm寬的光譜區域,CCD都有很高的量子效率,而大多數的發射、吸收和散射的光譜儀器這區域工作,因此CCD成為各類光譜儀器的理想探測器。
(3)動態線性響應范圍寬,達10個數量級。CCD具有很寬的響應范圍和理想的響應線性,達10個數量級(10?-106),而且在整個動態響應范圍內,都能保持線性響應,這對光譜定量分析具有特別意義。
(4)幾何尺寸穩定,耐過度曝光。CCD經長時間運轉,其幾何性能、熱性能和電性能均很穩定,不怕過度曝光,因此比PMT結實**。
(5)可以同時多道采樣,得到波長-強度-時間的三維譜線圖,與光電陰器件聯用,可觀察X射線圖像。
火花式直讀光譜分析儀
光電直讀光譜儀的優點:
在工業生產中,由于光電直讀光譜儀分析費用節省,分析速度快,分析結果可靠,已被廣泛采用。它具有以下優點。
(1)用光電直讀光譜儀做分析,可使用的譜線波長范圍較寬。這個范圍由光電倍增管的性能決定。例如,用石英窗孔的PMT,加上光譜儀的光學系統置于真空中,可用的波長可短至150nm。這就可能利用位于波段中的譜線來分析。例如N元素,波長為149.2nm,0元素波長為130.1nm。
(2)校準曲線范圍寬。由于PMT對信號的放大能力很大,對于強弱不同的譜線所用的PMT可用不同的放大倍數。相差可達10000倍。因此,光電法可用同一分析條件對樣品中許多元素進行分析。雖然含量范圍相差懸殊的很多元素從高含量到低含量都可同時分析。
(3)攝譜法的感光板及測光方面引人的誤差一般在1%以上。而光電直讀光譜儀的測光誤差可降至0.2%以下。具有很高的準確度。有利于樣品中高含量元素的分析,例如,Cr可以分析40%以上,Ni同樣分析在40%以上,而且準確。
(4)光電直讀光譜儀分析速度快,一般收到樣品2~3min內即可同時對鋼中20多個合金元素進行測量,控制冶煉工藝,加速煉鋼過程,是節能減排的一種有效手段。
火花式直讀光譜分析儀
廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析,*、、穩定、可靠測試幾十種元素,滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求,是生產金屬產品的設備。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術,全面測試各種金屬中元素的譜線,方便實現多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序為方便,方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
火花式直讀光譜分析儀
直讀光譜儀用戶如何選擇市場流通的標樣
如何選擇市場流通的標樣呢?可以從以下幾步實施:
1、先將用戶要檢測的樣品材料進行分類,將不同材質的樣品分成不同類別。
2、同類別的材料再按其基材和主要組份分類。
3、同基材的材料按照其主要組份進行歸一化分類。
4、確認歸一化的材料的組份差別控制在可容許范圍內,即可選擇該系列標樣進行曲線的建立。
直讀光譜儀分析的誤差的性質及其產生的原因有哪些?
1。系統誤差也叫可測誤差,它是由于分析過程中某些經常發生的比較固定的原因所造成的,它是可以通過測量而確定的誤差。通常系統誤差偏向一方,或偏高,或偏低。例如光譜標樣,經過足夠多次測量,發現分析結果平均值與該標樣證書上的含量值始終有一差距,這就產生一個固定誤差即系統誤差,系統誤差可以看作是對測定值的校正值,它決定了測定結果的準確度。
2。偶然誤差是一種無規律性的誤差,又稱不可測誤差,或隨機誤差,它是由于某些偶然的因素(如測定環境的溫度、濕度、振動、灰塵、油污、噪音、儀器性能等的微小的隨機波動)所引起的,其性質是有時大,有時小,有時正,有時負,難以察覺,難以控制。它決定了測定結果的精密度。
3。過失誤差是指分析人員工作中的操作失誤所得到的結果,沒有一定的規律可循,只能作為過失。不管造成過失誤差的具體原因如何,只要確知存在過失誤差,就將這一組測定值數據以異常值舍棄。
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